+ 8618917996096
Angličtina
中文 简体 中文简体 en English ru Русский es Español pt Português tr Türkçe ar العربية de Deutsch pl Polski it Italiano fr Français ko 한국어 th ไทย vi Tiếng Việt
24 Nov, 2015 705 Zobrazení

CIE Publikováno Nejnovější CIE S025 LED lampy, LED svítidla a LED moduly Testovací standard

CIE Publikováno Nejnovější CIE S025 LED lampy, LED svítidla a LED moduly Testovací standard

CIE nedávno zveřejnila první mezinárodní standard měření pro LED lampy, LED svítidla a LED moduly, tj. CIE S025 (http://div2.cie.co.at/?i_ca_id=563).

CIE Division 2 představí dvoudenní výuku nového standardu, která zahrnuje praktickou práci v laboratořích oddělení fotometrie a aplikované radiometrie PTB.

Pozvaní odborníci představí přednášky od základních konceptů po pokročilé techniky ve fotometrických a kolorimetrických měřeních, zaměřené na inženýry, pracovníky zkušebních laboratoří a výzkumné pracovníky v oblasti měření LED a polovodičového osvětlení a dalších souvisejících oborech. Zvláštní důraz bude kladen na vyhodnocení nejistot měření.

Kromě toho se budou konat schůze technických výborů CIE a průběžné výsledky dvou evropských výzkumných projektů týkajících se fotometrie a radiometrie, tj. MESaIL (http://www.eng62-mesail.eu) a NEWSTAR (www.inrim.eu/research-development/bulk-nano/photonics/newstar).

Jako člen CIE a jeden ze sponzorů tohoto výukového a expertního sympozia CIE se společnost Lisun rozšiřuje o spolupráci v oblasti osvětlení a poskytuje efektivní služby.

Po setkáních konaných 24. listopadu v listopadu uspořádala CIE konzultační večeři, k této večeři se připojilo 50 zaměstnanců CIE a profesionální výzkumník. Následuje několik fotek na webu večeře:

CIE Publikováno Nejnovější CIE S025 LED lampy, LED svítidla a LED moduly Testovací standard

Obrázek 1 je Dr. Yoshi Ohno (jeho pracovní pozice: viceprezident-technický a prezident zvolený CIE a NIST Fellow v Sensor Science Division of NIST v USA)

Více se dozvíte zde: http://div2.cie.co.at/?i_ca_id=974

Zanechat vzkaz

Vaše e-mailová adresa nebude zveřejněna. Povinné položky jsou označeny *